Sondy SPM

Sonda SPM jest kluczowym elementem każdego mikroskopu z sondą skanującą, którego właściwości i jakość zależą od udanego działania całego mikroskopu. Jest to podstawowy element pomiarowy wielu rodzajów mikroskopów sondujących. Właściwy wybór cantileveru jest jednym z najważniejszych warunków uzyskania dobrych obrazów AFM.

Najważniejszym elementem AFM (mikroskop sił atomowych) są sondy skanujące. Cantilever jest mikro-igłą (175х40х4 µm) o pewnym współczynniku sztywności k (10-3 – 10 N / m).

Oferujemy szeroką gamę cantileverów do różnych zastosowań mikroskopii sond skanujących np .:

  • diamentowe sondy AFM
  • magnetyczne sondy AFM
  • sondy koloidalne AFM
  • sondy AFM do mikroskopii sił bocznych
  • sondy AFM o ultra wysokiej częstotliwości

Więcej informacji znajdziesz na:

Kontakt

Nikoletta Buczek
Application Engineer

+48 513 864 913

nikoletta.buczek@sygnis.pl