Mikroskopia

SPECS LEEM/PEEM

SPECS LEEM/PEEM to mikroskop elektronowy z wykorzystaniem elektronów niskoenergetycznych oparty na projekcie dr Rudolfa Trompa pozwalający na badania z rozdzielczością do 5 nm. Dostępny również w wersji z korekcją aberracji dla pomiarów w rozdzielczości poniżej 2 nm.