Od dziesięcioleci mikroskopia elektronów niskoenergetycznych (LEEM) i mikroskopia emisyjna fotoelektronów (PEEM) pozostają sprawdzonymi technikami badania właściwości materjałów w mikro- i nanoskali. Charakteryzacja materiałów nowych, nanomateriałów i nanostruktur wymaga zbierania różnych rodzajów informacji w celu określenia ich właściwości. Informacje strukturalne są bardzo ważne dla zrozumienia wzrostu, struktury elektronowej lub reaktywności. Te informacje można uzyskać metodami mikroskopowymi. Ponadto techniki te dostarczają informacji spektroskopowych, po połączeniu których mamy dane spektromikroskopowe zapewniające zintegrowany i wszechstronny wgląd we właściwości materiałów.

SPECS LEEM/PEEM to niskoenergetyczny mikroskop elektronowy nowej generacji o niedoścignionej rozdzielczości 5 nm przeznaczony dla dynamicznych eksperymentów mikroskopowych LEEM. Za pomocą tego instrumentu, opartego na projekcie dr Rudolfa Trompa, można obserwować w czasie rzeczywistym procesy na powierzchniach w skali nanometrycznej. Urządzenie jest standardowo wyposażone w filtr energii do spektromikroskopii oraz może zostać rozbudowane do wersji z korekcją aberracji dla rozdzielczości poniżej 2 nm, albo jako Near Ambient Pressure LEEM/PEEM pozwalająca na badania w czasie rzeczywistym przy ciśnieniu dochodzącym do 1 bar.