Systemy

SPECS LEEM/PEEM

SPECS LEEM/PEEM to mikroskop elektronowy z wykorzystaniem elektronów niskoenergetycznych oparty na projekcie dr Rudolfa Trompa pozwalający na badania z rozdzielczością do 5 nm.

SPECS EnviroESCA

SPECS EnviroESCA to pierwszy system wysokoprzepustowych pomiarów ESCA dostosowany do pracy w warunkach NAP XPS (Near Ambient Pressure).