Od wielu dekad XPS (lub ESCA) jest uznaną, standardową metodą niedestruktywnej analizy chemicznej powierzchni twardych. Istniejące narzędzia ESCA łączą niezawodną, ilościową analizę chemiczną z wygodną obsługą próbek integrując je we w pełni automatycznych i kompaktowych systemach. W ostatnich latach zaprojektowano urządzenia XPS pracujące w warunkach znacznie wykraczających poza wysoką lub ultrawysoką próżnię. XPS Near Ambient Pressure (NAP) stało się szybko rozwijającym się polem badawczym, które inspiruje wielu naukowców do aplikacji tej metody w kompletnie innych zastosowaniach. Pokonując barierę ciśnienia możliwe stało się badanie złożonych układów materiałów z wykorzystaniem laboratoryjnych monochromatorów promieniowania X lub promieniowania synchrotronowego jako źródła wzbudzenia w warunkach NAP. Na tej podstawie SPECS Surface Nano Analysis GmbH opracowało rewolucyjne narzędzie w celu realizacji długo niespełnionego marzenia wielu laboratoriów: możliwość przeprowadzania rutynowej analizy powierzchni metodą XPS w dowolnych warunkach środowiskowych. EnviroESCA pozwala na wykonywanie analiz o wysokiej wydajności i umożliwia aplikację w obszarze technologii medycznej, biotechnologii i nauk przyrodniczych. Oferuje najkrótszy czas od załadowania do pomiaru dla próbek każdego rodzaju, w tym: płynów, tkanek, plastików i folii, proszków, gleb, zeolitów, skał, minerałów oraz ceramiki. Umożliwia także różnorodne aplikacje, jak: ekstremalnie szybka analiza powierzchni twardych w próbkach odgazowanych lub nieodgazowanych, analiza XPS płynów oraz interfejsów płyn-ciało stałe, analiza chemiczna próbek biologicznych, a także analiza materiałów i urządzeń w warunkach pracy (badania in situ/in operando katalizatorów, urządzeń elektrochemicznych itd.). Pozwala użytkownikowi na zbadanie nawet najbardziej wymagającej próbki, niemożliwej do przeanalizowania z wykorzystaniem tradycyjnego systemu XPS. Prezentacja podkreśli nowe możliwości EnviroESCA, w pełni zautomatyzowanego urządzenia o dopracowanym i kompaktowym designie z bezkompromisową prostotą użytkowania, a także wskaże i omówi kompletnie nowe pola zastosowań dla metody analizy XPS.